| 企业等级： | 普通会员 |
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测试要求
1、块体用fib制样，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；
2、纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；
1. 样品为什么会积碳，积碳有什么影响？答：样品中有机物的影响，制备过程含有机物，或者样品吸附空气中污染物；积碳会影响STEM模式的拍摄效果，让视野模糊不清。
2. 有什么方法可以改善积碳带来的影响？是否一定有用？答：等离子清洗制好样的载网，但有洗坏样品的风险，可以会导致负载颗粒脱落等风险；电子束辐照样品一段时间，理论上会有改善，但是实际不一定会有效果
3. 我要拍的单原子，为什么整片区域都是很亮的，看不清单个的？答：样品太厚，或者负载量太大等。
4. 为什么拍不到原子分辨率的mapping和eels？答：原子相要求样品很薄，样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱，不利于收集信号。那就要求样品很薄，很稳定，能长时间收集信号，且要求原子序数都比较大的。一般样品很难同时符合这几个要求。
5. 拍球差的样品为什么要很薄？答：薄的样品可以减少电子在样品中的弹射次数，分辨率就会比较高。
6. 样品很厚是不是制样没超声好？答：球差一般是拍样品边缘几个nm的区域，所以对于原子相样品团聚不会影响到拍摄效果，但样品本身很厚就会有影响，这个与超声分散的效果没有关系，与样品本身的厚薄有关。
7、AC-TEM和AC-STEM这两台透射电镜的区别是什么呢？AC-TEM的球差校正器安装在物镜位置，而AC-STEM的球差校正器安装在聚光镜的位置。另外，双球差校正TEM是一台TEM上同时安装两个校正器，同时校正汇聚束和成像。
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